Optical characterization of selective absorber and emitter thin films based on metal oxides of Ni, Ti and V using photothermal and ellipsometric spectroscopies = Caracterización óptica de películas delgadas de absorción y emisión selectiva, basadas en óxidos metàlicos de Ni, Ti y V, mediante el uso de espectroscopía fototérmica y elipsometría

dc.contributor.author	Ramírez Rincón, Jorge Andrés
dc.date.accessioned	2021-08-17T00:48:40Z
dc.date.available	2021-08-17T00:48:40Z
dc.date.issued	2019
dc.identifier.uri	https://repositorio.cinvestav.mx/handle/cinvestav/3411
dc.format	pdf
dc.format.extent	113 h. : 28 cm.
dc.language.iso	eng
dc.publisher	Tesis (D.C.)--Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del I.P.N. Unidad Mérida. Departamento de Física Aplicada
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4
dc.subject.classification	FÍSICA, MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA
dc.subject.other	Optoacoustic spectroscopy::Technique\|\|Photothermal spectroscopy\|\|Photothermal radiometry\|\|Dissertations, Academic
dc.title	Optical characterization of selective absorber and emitter thin films based on metal oxides of Ni, Ti and V using photothermal and ellipsometric spectroscopies = Caracterización óptica de películas delgadas de absorción y emisión selectiva, basadas en óxidos metàlicos de Ni, Ti y V, mediante el uso de espectroscopía fototérmica y elipsometría
dc.type	doctoralThesis
dc.contributor.director	Alvarado Gil, Juan José
dc.contributor.director	Arés Muzio, Oscar Eduardo
dc.identificator	1
dc.coverage.placeofpublication	Mérida, Yucatán, México
dc.description.institution	CINVESTAV
dc.description.unidad	Unidad Mérida-YUCATÁN
dc.thesis.area	Ciencias Exactas y Naturales
dc.thesis.degreedepartment	Unidad Mérida
dc.thesis.degreediscipline	Física Aplicada
dc.rights.access	openAccess

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