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Estudio de las propiedades eléctricas de películas delgadas de CuxCd₁-xTe Y de CuxCd₁-xTe:O crecidas por erosión catódica RF mediante CO-deposito metal semiconductor

dc.contributor.authorGarnett Ruiz, Gregorio Ernesto
dc.date.accessioned2023-10-25T20:36:42Z
dc.date.available2023-10-25T20:36:42Z
dc.date.issued2003
dc.identifier.urihttps://repositorio.cinvestav.mx/handle/cinvestav/4502
dc.formatpdf
dc.format.extentxii, 168 p, : il, ; 28 cm
dc.language.isospa
dc.publisherTesis (M.C.)--Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del I.P.N. Unidad Querétaro
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4
dc.subject.classificationINGENIERÍA Y TECNOLOGÍA
dc.subject.otherDissertations, Academic
dc.titleEstudio de las propiedades eléctricas de películas delgadas de CuxCd₁-xTe Y de CuxCd₁-xTe:O crecidas por erosión catódica RF mediante CO-deposito metal semiconductor
dc.typemasterThesis
dc.contributor.directorJiménez Sandoval, Sergio Joaquín
dc.contributor.directorTorres Delgado, Gerardo
dc.identificator7
dc.coverage.placeofpublicationSantiago de Querétaro, Querétaro, México
dc.description.institutionCINVESTAV
dc.description.unidadUnidad Querétaro
dc.thesis.areaTecnología y Ciencias de la Ingeniería
dc.thesis.degreedepartmentUnidad Querétaro
dc.thesis.degreedisciplineIngeniería de Materiales
dc.rights.accessopenAccess


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Nombre:
SS1T000007045.pdf
Tamaño:
112.5Mb
Formato:
PDF
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