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Elipsometría in situ en el estudio de la expansión térmica de películas delgadas poliméricas

dc.contributor.authorMontiel González, Zeuz
dc.date.accessioned2023-10-25T20:46:55Z
dc.date.available2023-10-25T20:46:55Z
dc.date.issued2006
dc.identifier.urihttps://repositorio.cinvestav.mx/handle/cinvestav/4577
dc.formatpdf
dc.format.extentvii, 112 h. : il. ; 28 cm.
dc.language.isospa
dc.publisherTesis (M.C.)--Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del I.P.N. Unidad Querétaro
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4
dc.subject.classificationINGENIERÍA Y TECNOLOGÍA
dc.subject.otherDissertations, Academic
dc.titleElipsometría in situ en el estudio de la expansión térmica de películas delgadas poliméricas
dc.typemasterThesis
dc.contributor.directorLuna Bárcenas, J. Gabriel
dc.contributor.directorMendoza Galván, Arturo
dc.identificator7
dc.coverage.placeofpublicationSantiago de Querétaro, Querétaro, México
dc.description.institutionCINVESTAV
dc.description.unidadUnidad Querétaro
dc.thesis.areaTecnología y Ciencias de la Ingeniería
dc.thesis.degreedepartmentUnidad Querétaro
dc.thesis.degreedisciplineIngeniería de Materiales
dc.rights.accessopenAccess


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SSIT000008537.pdf
Tamaño:
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Formato:
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