Desarrollo de técnicas de microscopia de fuerza atómica modo de medición de capacitancia por función de transferencia (TFC-AFM) = Technical development of atomic force miscrocopy capacitance measurement mode by transfer function (TFC-AFM)

dc.contributor.author	Platt Pou, Carlos Guillermo
dc.date.accessioned	2023-10-31T17:57:04Z
dc.date.available	2023-10-31T17:57:04Z
dc.date.issued	2015
dc.identifier.uri	https://repositorio.cinvestav.mx/handle/cinvestav/4763
dc.format	pdf
dc.format.extent	68 p. : il. ; 28 cm.
dc.language.iso	spa
dc.publisher	Tesis (M.C.)--Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del I.P.N. Unidad Querétaro
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4
dc.subject.classification	INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA
dc.subject.other	Atomic force microscopy\|\|Transfer functions\|\|Dissertations, Academic
dc.title	Desarrollo de técnicas de microscopia de fuerza atómica modo de medición de capacitancia por función de transferencia (TFC-AFM) = Technical development of atomic force miscrocopy capacitance measurement mode by transfer function (TFC-AFM)
dc.type	masterThesis
dc.contributor.director	Espinoza Beltrán, Francisco Javier
dc.contributor.director	Ramírez Bon, Rafael
dc.identificator	7
dc.coverage.placeofpublication	Santiago de Querétaro, Querétaro, México
dc.description.institution	CINVESTAV
dc.description.unidad	Unidad Querétaro
dc.thesis.area	Tecnología y Ciencias de la Ingeniería
dc.thesis.degreedepartment	Unidad Querétaro
dc.thesis.degreediscipline	Ingeniería de Materiales
dc.rights.access	openAccess

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