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Desarrollo de técnicas de microscopia de fuerza atómica modo de medición de capacitancia por función de transferencia (TFC-AFM) = Technical development of atomic force miscrocopy capacitance measurement mode by transfer function (TFC-AFM)

dc.contributor.authorPlatt Pou, Carlos Guillermo
dc.date.accessioned2023-10-31T17:57:04Z
dc.date.available2023-10-31T17:57:04Z
dc.date.issued2015
dc.identifier.urihttps://repositorio.cinvestav.mx/handle/cinvestav/4763
dc.formatpdf
dc.format.extent68 p. : il. ; 28 cm.
dc.language.isospa
dc.publisherTesis (M.C.)--Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del I.P.N. Unidad Querétaro
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4
dc.subject.classificationINGENIERÍA Y TECNOLOGÍA
dc.subject.otherAtomic force microscopy||Transfer functions||Dissertations, Academic
dc.titleDesarrollo de técnicas de microscopia de fuerza atómica modo de medición de capacitancia por función de transferencia (TFC-AFM) = Technical development of atomic force miscrocopy capacitance measurement mode by transfer function (TFC-AFM)
dc.typemasterThesis
dc.contributor.directorEspinoza Beltrán, Francisco Javier
dc.contributor.directorRamírez Bon, Rafael
dc.identificator7
dc.coverage.placeofpublicationSantiago de Querétaro, Querétaro, México
dc.description.institutionCINVESTAV
dc.description.unidadUnidad Querétaro
dc.thesis.areaTecnología y Ciencias de la Ingeniería
dc.thesis.degreedepartmentUnidad Querétaro
dc.thesis.degreedisciplineIngeniería de Materiales
dc.rights.accessopenAccess


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SSIT0013575.pdf
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