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Phase purity and crystalline quality of zincblende GaN epilayers = Pureza de fase y calidad cristalina de epicapas de GaN zincblenda

dc.contributor.authorTrejo Hernández, Raúl
dc.date.accessioned2024-06-05T17:18:32Z
dc.date.available2024-06-05T17:18:32Z
dc.date.issued2023
dc.identifier.urihttps://repositorio.cinvestav.mx/handle/cinvestav/5302
dc.formatpdf
dc.format.extentxix, 135 p. : il. ; 28 cm.
dc.language.isoeng
dc.publisherTesis (D.C.)--Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del I.P.N. Programa Multidisciplinario de Nanociencias y Nanotecnología
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4
dc.subject.classificationINGENIERÍA Y TECNOLOGÍA
dc.subject.otherX-rays::Diffraction||Nitrides::Semiconductors||Gallium nitride||Radio frequency||Dissertations, Academic
dc.titlePhase purity and crystalline quality of zincblende GaN epilayers = Pureza de fase y calidad cristalina de epicapas de GaN zincblenda
dc.typedoctoralThesis
dc.contributor.directorLópez López, Máximo
dc.contributor.directorCasallas Moreno, Yenny Lucero
dc.identificator7
dc.coverage.placeofpublicationCiudad de México
dc.description.institutionCINVESTAV
dc.description.unidadZacatenco-CDMX
dc.thesis.areaTecnología y Ciencias de la Ingeniería
dc.thesis.degreedisciplinePrograma Multidisciplinario de Nanociencias y Nanotecnología
dc.rights.accessopenAccess


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Nombre:
SSIT0018231.pdf
Tamaño:
7.866Mb
Formato:
PDF
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