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Optical characterization of selective absorber and emitter thin films based on metal oxides of Ni, Ti and V using photothermal and ellipsometric spectroscopies = Caracterización óptica de películas delgadas de absorción y emisión selectiva, basadas en óxidos metàlicos de Ni, Ti y V, mediante el uso de espectroscopía fototérmica y elipsometría
(Tesis (D.C.)--Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del I.P.N. Unidad Mérida. Departamento de Física Aplicada, 2019)