Estudio y modelación de transistores de capa fina basados en óxidos metálicos semiconductores amorfos (AOSTFTs)

dc.contributor.author	Hernández Barrios, Yoanlys
dc.date.accessioned	2022-01-26T01:39:24Z
dc.date.available	2022-01-26T01:39:24Z
dc.date.issued	2020
dc.identifier.uri	https://repositorio.cinvestav.mx/handle/cinvestav/3633
dc.format	pdf
dc.format.extent	xx, 146 p. : il. ; 28 cm.
dc.language.iso	spa
dc.publisher	Tesis (D.C.)--Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del I.P.N. Departamento de Ingeniería Eléctrica. Sección de Electrónica del Estado Sólido
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4
dc.subject.classification	INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA
dc.subject.other	Metal oxide semiconductors\|\|Thin film transistors\|\|Semiconductors\|\|Dissertations, Academic
dc.title	Estudio y modelación de transistores de capa fina basados en óxidos metálicos semiconductores amorfos (AOSTFTs)
dc.type	doctoralThesis
dc.contributor.director	Cerdeira Altuzarra, Antonio
dc.contributor.director	Estrada del Cueto, Magali
dc.identificator	7
dc.coverage.placeofpublication	Ciudad de México
dc.description.institution	CINVESTAV
dc.description.unidad	Zacatenco-CDMX
dc.thesis.area	Tecnología y Ciencias de la Ingeniería
dc.thesis.degreedepartment	Ingeniería Eléctrica
dc.thesis.degreediscipline	Sección de Electrónica del Estado Sólido
dc.rights.access	openAccess

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